METODE PENGUKURAN TINGKAT KECACATAN PADA PERMUKAAN CIP SENSOR
Paten
METODE PENGUKURAN TINGKAT KECACATAN PADA PERMUKAAN CIP SENSOR
Invensi ini berupa suatu metode pengujian tingkat kecacatan permukaan bantalan cip dengan menggunakan metode pemrosesan citra dengan cara mendeteksi titlk-titik kecacatan pada permukaan bantalan cip sensor. Langkah-langkah yang terdiri dari memisahkan bagian bantalan permukaan cip sensor dengan bagian permukaan diluar bantalan cip dengan cara menggunakan metode klasterisasi K-means; dilanjutkan proses kedua yaitu melakukan ekstraksi kecacatan dengan menggunakan metode Gabor beragan arah menggunakan kernel sebesar 25 piksel, lebih disukai menggunakan delapan arah; dan dilanjutkan dengan tahap ketiga yaitu pendeteksian tepi dengan menggunakan metode Canny; dan diakhiri dengan tahap keempat yaitu mengukur jumlah kecacatan pada setiap titlk citra yang terdeteksi. Memutuskan kualitas cip sensor diterima atau ditolak dengan merujuk pada hasll perhitungan jumlah piksel yang terdeteksi cacat dengan toleransi kecacatan sebesar 25% dari area pernukaan bantalan cip sensor.
P00201601904
22 Maret 2016
2016
MIG-2016-1650216296.6588
-
Pusat Penelitian Informatika
Lembaga Ilmu Pengetahuan Indonesia
Paten
Teknologi Pengukuran, TIK
6
G01N 27/00
Drs. Zulhelmi Yunus, M.Hum.
0
22 Oktober 2021
IDP000079475
Adi Nurhadiyatna ; Arwan Ahmad Khoiruddin S.Kom., M.Cs. ; Edi Kurniawan ; Esa Prakasa ;