METODE PENGENDALIAN KUALITAS UKURAN CIP SENSOR
Paten
METODE PENGENDALIAN KUALITAS UKURAN CIP SENSOR
Invensi ini berupa suatu metode pengendalian kualitas ukuran cip sensor dengan cara menggunakan teknik pengambilan dan pemrosesan gambar dengan tahapan yang terdiri dari; mengambil gambar dengan latar yang kontras, di mana gambar terakuisisi mencakup seluruh area cip; mengukur skala antara jarak aktual dengan jarak dalam piksel; mengkonversi gambar dari format awal RGB ke format grayscale; mengkonversi gambar dari format grayscale ke biner; mengoperasikan teknik Morpologi terhadap gambar biner; mendeteksi koordinat dari sudut-sudut cip; menghitung ukuran cip (Panjang dan Lebar) berdasarkan koordinat-koordinat tersebut; dan mengkonversi dari jarak piksel ke jarak aktual. Dari metode ini diperoleh hasil pengukuran dengan presisi tinggi setelah di bandingkan dengan pengkuran secara manual. Oleh karena itu, invensi ini bisa di pakai untuk pengendalian kualitas ukuran cip dengan cepat dan massal, serta akurasi yang tinggi.
P00201601899
22 Maret 2016
2016
MIG-2016-1650216296.4972
-
Pusat Penelitian Informatika
Lembaga Ilmu Pengetahuan Indonesia
Paten
Teknologi Informasi Dan Telekomunikasi, Teknologi Pengukuran
4
G01B 11/02, G01C 11/04, G06T 3/00, G06T 7/00, G06T 7/60
Lydia Eka Fitri, S.T.
0
08 November 2021
IDP000079753
Adi Nurhadiyatna ; Arwan Ahmad Khoiruddin S.Kom., M.Cs. ; Edi Kurniawan ; Esa Prakasa ;